近红外光谱,用于监测单壶造粒机

本申请说明介绍了新的传感器设计的利用可能性,其允许与NIRS XDS处理分析仪相结合,在干燥阶段期间确定高剪切造粒机中的溶剂残留物。该系统配置减少了粉末样品的密度分布的散射,从而可以直接在该过程中,精确地模拟水和溶剂含量。